RFP-09智能測(cè)力儀主要功能有：檢測(cè)、檢定、標(biāo)定、打印、時(shí)鐘等

RFP-09智能測(cè)力儀主要功能有：檢測(cè)、檢定、標(biāo)定、打印、時(shí)鐘等RFP-09型智能測(cè)力儀是集測(cè)量、控制于一體的測(cè)控儀表。可進(jìn)行拉伸、抗壓、抗折等試驗(yàn)。可配套用于各種機(jī)、拉力機(jī)、壓力機(jī)的控制部分，用途廣泛。
    本儀器采用的的32位ARM技術(shù)，加以24位高精度AD和大容量?jī)?nèi)存，具有測(cè)量精度高、響應(yīng)快捷穩(wěn)定、控制速度快而準(zhǔn)確等特點(diǎn)。采用圖形液晶顯示器，試驗(yàn)結(jié)果以直觀的文字、圖形方式進(jìn)行顯示、保存及打印（選配微型熱敏打印機(jī)）；用戶操作采用了漢字顯示的多層菜單結(jié)構(gòu)，功能強(qiáng)大，操作方便，并且加入了對(duì)操作的容錯(cuò)處理，如力值傳感器AD值、單位、零點(diǎn)、校準(zhǔn)值。可計(jì)算zui大力、屈服力、zui大變形等試驗(yàn)參數(shù)。
    可與PC相連,可選配上位機(jī)軟件，電腦與控制器同步顯示力值、位移、變形，也可實(shí)現(xiàn)一臺(tái)電腦對(duì)多臺(tái)控制器方案。
    可用多種限位開關(guān)，力值過載保護(hù)功能可設(shè)定、故障自檢、提示功能、存儲(chǔ)器、AD芯片、內(nèi)存芯片、CPU程序、上限位保護(hù)、下限位保護(hù)等故障，力傳感器未接或過載、力傳感器未標(biāo)定等查詢功能。
一、主要規(guī)格及技術(shù)參數(shù)
電    源：～380 ±10% V / 50 Hz；
儀器功耗：≦20W；
溫    度：-10 ?C - 40 ?C； 濕度30 % - 85 %；   
       外形尺寸：360×215×145（開空尺寸345×260×130）（寬×深×高）；
       打印紙尺寸：57㎜寬（熱敏打印紙）；
       儀表保險(xiǎn)絲：1、1A；
測(cè)力：
解 析 度： 1/250000；非線性重復(fù)性誤差：≦ ±1％；
精    度： 0.5%以上（一般可達(dá)到0.02%FS）；
測(cè)量范圍： 50kN ～ 3000 kN任意設(shè)定；
分 辨 率：3位小數(shù)(量程≦100kN)，2位小數(shù)(量程≦3000kN)
采樣頻率：100次/秒
數(shù)字引伸計(jì)/位移：
光電編碼器
分 辨 率：zui高達(dá) 0.001mm ；響應(yīng)頻率 40kHz；
范    圍：0～ 20000 mm 任意設(shè)置；
精    度：儀表系統(tǒng)*；
解碼方式：4相解碼；                   
       引伸計(jì)(選配)
解 析 度：1/100000
分 辨 率：0.001mm
采樣頻率：100次/秒；
精    度：示值的±0.5%；
二、功能
1.時(shí)    鐘：年、月、日、時(shí)、分、秒
2.組號(hào)設(shè)定：000001——999999
3.截面設(shè)定：抗折抗壓試塊
（0）——用于非標(biāo)試件抗壓（無需輸面積）
（1）——用于100×100㎜的立方體抗壓試塊
（2）——用于150×150㎜的立方體抗壓試塊
（3）——用于200×200㎜的立方體抗壓試塊
（4）——適用于任意截面的抗壓試塊（需輸面積）
（5）——用于150×150×550㎜的抗折試塊
（6）——用于100×100×400㎜的抗折試塊
（7）——用于40×40×160㎜的抗壓試塊
（8）——用于70.7×70.7㎜的立方體抗壓試塊
（9）——用于磚塊抗折（需輸入長(zhǎng)度、寬度、高度）
4.抗拉試件：
（1）——用于非標(biāo)試件抗拉（無需輸面積）
（2）——用于圓形截面試件抗拉
（3）——用于管形截面試件抗拉
（4）——板形截面試件抗拉
（5）——剖條試件抗拉
（6）——不規(guī)則截面試件抗拉（需輸面積）
（7）——圓矩形試件抗拉
儲(chǔ)存： 本儀表自動(dòng)保存檢測(cè)數(shù)據(jù)。zui大儲(chǔ)存量是500次數(shù)據(jù)組，編號(hào)范圍為000001#～999999﹟。編號(hào)自動(dòng)遞增，也可以手動(dòng)輸入。同一編號(hào)的檢測(cè)數(shù)據(jù)只保存zui近一次。數(shù)據(jù)存儲(chǔ)采取先進(jìn)先出的原則，即當(dāng)測(cè)試單元超過500個(gè)時(shí)*個(gè)測(cè)試單元的數(shù)據(jù)將被清除。